Análise de metais XRF – Análise não destrutiva

A fluorescência de raios X (XRF) é um método analítico não destrutivo usado para determinar concentrações elementares em vários materiais.

O XRF funciona atingindo uma amostra com um feixe de raios X de um tubo de raios X, fazendo com que os raios X característicos fiquem fluorescentes em cada elemento da amostra. Um detector mede a energia e a intensidade (número de raios X por segundo em uma energia específica) de cada raio X, que é transformado em uma concentração elementar usando uma técnica não padronizada, como parâmetros fundamentais ou curvas de calibração geradas pelo usuário .

A presença de um elemento é identificada pelo comprimento de onda ou energia característicos da emissão de raios-X do elemento. A quantidade de um elemento presente é quantificada pela medição da intensidade da emissão de raios-X característica desse elemento.

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